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  • PCT試驗機 PCT試驗箱

    PCT試驗機 PCT試驗箱用來(lái)測試產(chǎn)品在高溫、高濕及壓力的氣候環(huán)境下的貯存、運輸和使用時(shí)的性能試驗,主要用于對電工、電子產(chǎn)品,元器件、零部件、金屬材料及其材料在模擬高溫、高濕及壓力的氣候條件下,對產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)性能進(jìn)行測試,測試后,通過(guò)檢定來(lái)判斷產(chǎn)品的性能是否能夠達到要求,以便供產(chǎn)品的設計、改進(jìn)、檢定及出廠(chǎng)檢驗使用。

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    更新時(shí)間:2025-06-10
  • 高壓加速老化試驗機,PCT試驗箱

    高壓加速老化試驗機,PCT試驗箱測試產(chǎn)品在高溫、高濕及壓力的氣候環(huán)境下的貯存、運輸和使用時(shí)的性能試驗,主要用于對電工、電子產(chǎn)品,元器件、零部件、金屬材料及其材料在模擬高溫、高濕及壓力的氣候條件下,對產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)性能進(jìn)行測試,測試后,通過(guò)檢定來(lái)判斷產(chǎn)品的性能是否能夠達到要求,以便供產(chǎn)品的設計、改進(jìn)、檢定及出廠(chǎng)檢驗使用。

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    更新時(shí)間:2025-06-10
  • PCT-35光纖PCT試驗箱

    PCT-35光纖PCT試驗箱測試各類(lèi)產(chǎn)品在高溫、高濕及壓力的氣候環(huán)境下的貯存、運輸和使用時(shí)的性能試驗,主要用于對電工、電子產(chǎn)品,元器件、零部件、金屬材料及其材料在模擬高溫、高濕及壓力的氣候條件下,對產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)性能進(jìn)行測試,測試后,通過(guò)檢定來(lái)判斷產(chǎn)品的性能是否能夠達到要求,以便供產(chǎn)品的設計、改進(jìn)、檢定及出廠(chǎng)檢驗使用。

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    更新時(shí)間:2025-06-10
  • 分光器PCT試驗箱

    分光器PCT試驗箱測試各類(lèi)產(chǎn)品在高溫、高濕及壓力的氣候環(huán)境下的貯存、運輸和使用時(shí)的性能試驗,主要用于對電工、電子產(chǎn)品,元器件、零部件、金屬材料及其材料在模擬高溫、高濕及壓力的氣候條件下,對產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)性能進(jìn)行測試,測試后,通過(guò)檢定來(lái)判斷產(chǎn)品的性能是否能夠達到要求,以便供產(chǎn)品的設計、改進(jìn)、檢定及出廠(chǎng)檢驗使用。

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  • 光分路器PCT高壓加速老化試驗機

    光分路器PCT高壓加速老化試驗機主要是測試光分路器等光電材料封裝之濕氣能力,待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會(huì )沿者膠體或膠體與導線(xiàn)架之接口滲入封裝體,常見(jiàn)之故障方式為主動(dòng)金屬化區域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。

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  • 釹鐵硼PCT高壓加速老化試驗機

    釹鐵硼PCT高壓加速老化試驗機主要是測試磁性材料封裝之濕氣能力,待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會(huì )沿者膠體或膠體與導線(xiàn)架之接口滲入封裝體,常見(jiàn)之故障方式為主動(dòng)金屬化區域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。

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    更新時(shí)間:2025-06-10
  • 光分路器PCT試驗機,試驗箱

    光分路器PCT試驗機,試驗箱測試產(chǎn)品在高溫、高濕及壓力的氣候環(huán)境下的貯存、運輸和使用時(shí)的性能試驗,主要用于對電工、電子產(chǎn)品,元器件、零部件、金屬材料及其材料在模擬高溫、高濕及壓力的氣候條件下,對產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)性能進(jìn)行測試。

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  • PCT高壓加速老化壽命試驗機

    PCT高壓加速老化壽命試驗機測試產(chǎn)品在高溫、高濕及壓力的氣候環(huán)境下的貯存、運輸和使用時(shí)的性能試驗,主要用于對電工、電子產(chǎn)品,元器件、零部件、金屬材料及其材料在模擬高溫、高濕及壓力的氣候條件下,對產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)性能進(jìn)行測試,測試后,通過(guò)檢定來(lái)判斷產(chǎn)品的性能是否能夠達到要求,以便供產(chǎn)品的設計、改進(jìn)、檢定及出廠(chǎng)檢驗使用。

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    更新時(shí)間:2025-06-10
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